你對食品金屬探測儀的(de)故障(zhang)(zhang)問(wen)題了(le)解嗎？下面我們一起看看食(shi)(shi)(shi)品(pin)金(jin)屬探測儀(yi)應用中電源(yuan)故障(zhang)(zhang)問(wen)題的(de)處(chu)理、食(shi)(shi)(shi)品(pin)金(jin)屬探測儀(yi)電磁干擾故障(zhang)(zhang)問(wen)題的(de)處(chu)理及食(shi)(shi)(shi)品(pin)金(jin)屬探測儀(yi)檢測靈敏(min)度限制因素等(deng)食(shi)(shi)(shi)品(pin)金(jin)屬探測儀(yi)的(de)故障(zhang)(zhang)相關(guan)的(de)問(wen)題吧(ba)！

    食(shi)品金屬(shu)探(tan)測儀(yi)應用中電源故障(zhang)問題的處理：

    當食品金(jin)屬探(tan)(tan)測儀供電(dian)電(dian)源(yuan)的(de)負載(zai)發(fa)生(sheng)巨大變化時會產(chan)生(sheng)電(dian)纜噪(zao)音。這(zhe)會對金(jin)屬探(tan)(tan)測系(xi)統(tong)的(de)性能產(chan)生(sheng)不(bu)利影響，甚至會使(shi)系(xi)統(tong)出現錯誤剔除等異常(chang)動作(zuo)。食品金(jin)屬探(tan)(tan)測儀所使(shi)用的(de)最佳電(dian)源(yuan)應當是僅對低功率設備進行供電(dian)的(de)電(dian)源(yuan)，并且(qie)不(bu)與對不(bu)同電(dian)流(liu)負載(zai)供電(dian)的(de)其(qi)他電(dian)源(yuan)相連。

    食品金屬探(tan)測(ce)儀電磁(ci)干擾(rao)故(gu)障問題(ti)的處理：

    周圍的(de)(de)(de)電(dian)子(zi)設備(bei)(bei)會影響金(jin)(jin)(jin)屬(shu)(shu)探測器(qi)發出的(de)(de)(de)電(dian)噪聲輻射的(de)(de)(de)性能，甚至使系(xi)統(tong)錯誤刪除異常行(xing)為。從經濟角度來(lai)看，這將導致大量的(de)(de)(de)開(kai)銷，也會導致運(yun)營商失去信心。我們應(ying)該(gai)努力確保在(zai)沒有電(dian)磁干(gan)擾(rao)（如：無線電(dian)發射機）附近(jin)安裝金(jin)(jin)(jin)屬(shu)(shu)探測器(qi)。應(ying)該(gai)完全按照制造商的(de)(de)(de)要求來(lai)檢測機附近(jin)的(de)(de)(de)驅動裝置安裝逆變器(qi)和(he)速度。應(ying)盡(jin)量保證電(dian)纜(lan)變換器(qi)，變速驅動裝置遠離金(jin)(jin)(jin)屬(shu)(shu)探測器(qi)或食品金(jin)(jin)(jin)屬(shu)(shu)探測儀電(dian)纜(lan)。特別注意避免金(jin)(jin)(jin)屬(shu)(shu)探測器(qi)放置在(zai)電(dian)磁干(gan)擾(rao)的(de)(de)(de)頻(pin)率范圍和(he)試驗機一樣(yang)的(de)(de)(de)設備(bei)(bei)。

    食品(pin)金屬探測儀檢測靈敏(min)度限(xian)制(zhi)因素：

    經常會出現許多有關(guan)食(shi)品(pin)金(jin)屬(shu)探測(ce)儀(yi)的(de)靈敏(min)度(du)技術參數(shu)與實際(ji)運行(xing)功能的(de)疑(yi)惑(huo)與錯誤信息。影(ying)響靈敏(min)度(du)的(de)因素很(hen)多，如(ru)想(xiang)使靈敏(min)度(du)數(shu)據具有意義，則需要(yao)根據目(mu)標用(yong)途對其加以(yi)改進。在看(kan)完上(shang)海食(shi)品(pin)金(jin)屬(shu)探測(ce)儀(yi)給我們(men)介紹的(de)“食(shi)品(pin)金(jin)屬(shu)探測(ce)儀(yi)的(de)故障問題(ti)”相(xiang)關(guan)知識，接下(xia)來(lai)在一起(qi)看(kan)看(kan)食(shi)品(pin)金(jin)屬(shu)探測(ce)儀(yi)功能特點和地下(xia)食(shi)品(pin)金(jin)屬(shu)探測(ce)儀(yi)日常應用(yong)的(de)知識相(xiang)關(guan)介紹吧！

    食品金屬探測儀功能特點：

    食(shi)(shi)品金屬(shu)探(tan)(tan)測儀(yi)功(gong)(gong)能設定所需功(gong)(gong)能與模式，設自(zi)(zi)檢功(gong)(gong)能；檢測到(dao)微量金屬(shu)時(shi)，聲、光、儀(yi)表同(tong)時(shi)提醒，不(bu)合格(ge)產(chan)品自(zi)(zi)動返回(hui)或停止狀態；食(shi)(shi)品金屬(shu)探(tan)(tan)測儀(yi)整機(ji)全部工業不(bu)銹(xiu)鋼制造，包含鏍(luo)絲(si)、鏍(luo)帽，防水防銹(xiu)，衛生(sheng)便于清洗；輸(shu)送帶進口環保型(xing)，食(shi)(shi)品級(ji)專(zhuan)用，適(shi)用溫度(du)-20℃—65℃，便于冷(leng)藏區工作；食(shi)(shi)品金屬(shu)探(tan)(tan)測儀(yi)探(tan)(tan)頭(tou)（龍門架(jia)）可在一定范圍(wei)內升高或降低（升降式）；組合微型(xing)超低音環保電機(ji)，連(lian)續使(shi)用不(bu)會(hui)出現(xian)故障(zhang)；儀(yi)器(qi)(qi)設有自(zi)(zi)檢功(gong)(gong)能，開機(ji)可自(zi)(zi)行檢測儀(yi)器(qi)(qi)是否正常，以避免不(bu)必要(yao)的維修。

    地下食品(pin)金屬探測儀日(ri)常(chang)應用的知識：

    地(di)(di)下(xia)食(shi)品(pin)(pin)金屬(shu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)儀(yi)等先進技術的(de)(de)(de)應(ying)用，金屬(shu)檢(jian)測(ce)設(she)備具有廣泛(fan)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)，定位準(zhun)確，分辨(bian)率(lv)高的(de)(de)(de)特(te)點(dian)，操作(zuo)簡單的(de)(de)(de)特(te)點(dian)。食(shi)品(pin)(pin)金屬(shu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)儀(yi)主要是埋在(zai)地(di)(di)下(xia)的(de)(de)(de)金屬(shu)物體的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)和(he)(he)(he)鑒定隱藏。在(zai)這里，小編和(he)(he)(he)解(jie)釋(shi)地(di)(di)下(xia)食(shi)品(pin)(pin)金屬(shu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)儀(yi)的(de)(de)(de)日常(chang)知識的(de)(de)(de)應(ying)用。除了在(zai)軍事上應(ying)用地(di)(di)下(xia)金屬(shu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)器，也廣泛(fan)應(ying)用于：安全檢(jian)查，考古(gu)，探(tan)(tan)(tan)險，廢金屬(shu)。地(di)(di)下(xia)金屬(shu)探(tan)(tan)(tan)測(ce)器使(shi)用聲音提醒和(he)(he)(he)顯示，與金屬(shu)面(mian)積，形狀的(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)測(ce)深(shen)度，重量有很大的(de)(de)(de)關(guan)系，

    一般來說，數量(liang)較大的(de)(de)，更(geng)大的(de)(de)深(shen)(shen)度。相(xiang)反，較小的(de)(de)，較少，相(xiang)應的(de)(de)深(shen)(shen)度小于。包含(han)各(ge)種地層中的(de)(de)礦(kuang)物，他們也會使金屬(shu)探測(ce)信號(hao)的(de)(de)產生，這(zhe)些(xie)礦(kuang)物的(de)(de)信號(hao)會隱(yin)藏金屬(shu)引起的(de)(de)幻(huan)覺(jue)。以前的(de)(de)食(shi)品(pin)金屬(shu)探測(ce)儀的(de)(de)人都有(you)這(zhe)樣的(de)(de)經(jing)驗(yan)，與附近的(de)(de)土堆，探頭石，磚和砂漿將發出提醒聲，這(zhe)種現(xian)象稱(cheng)為“礦(kuang)化反應”。現(xian)在，配備(bei)先進的(de)(de)平衡系統地下食(shi)品(pin)金屬(shu)探測(ce)儀，可以消除干(gan)擾“礦(kuang)化反應”，大大提高了(le)儀器的(de)(de)探測(ce)深(shen)(shen)度的(de)(de)影響。