珠(zhu)華(hua)檢針機(ji)(ji)靈(ling)敏度(du)(du)一般在出廠(chang)的時(shi)(shi)候(hou)就已經測(ce)試好(hao)了的，檢針機(ji)(ji)靈(ling)珠(zhu)華(hua)檢針機(ji)(ji)靈(ling)敏度(du)(du)測(ce)試發(fa)展有(you)時(shi)(shi)期(qi)之(zhi)分(fen)，敏度(du)(du)測(ce)試發(fa)展有(you)時(shi)(shi)期(qi)之(zhi)分(fen)，一般情況出廠(chang)之(zhi)后(hou)檢針機(ji)(ji)靈(ling)敏度(du)(du)的測(ce)試主要分(fen)為兩(liang)個(ge)時(shi)(shi)期(qi)。

　　檢針(zhen)機(ji)靈敏度測試時(shi)(shi)期1：模似電路檢針(zhen)機(ji)時(shi)(shi)期：這一時(shi)(shi)期的(de)檢針(zhen)機(ji)能檢測到(dao)1.2mm直(zhi)徑的(de)鐵球就算非(fei)常不錯的(de)檢針(zhen)機(ji)了(le)，生產技術大多(duo)還(huan)處于模仿階段，多(duo)采用模擬電路設計，機(ji)器(qi)性能及(ji)靈敏度沒法達到(dao)很高的(de)水平。

　　檢針機靈敏度測試時期2：數(shu)字(zi)電路檢(jian)(jian)(jian)針機(ji)械時期：約2004年(nian)后(hou)至(zhi)今，由(you)于檢(jian)(jian)(jian)針機(ji)數(shu)字(zi)時代的(de)(de)到(dao)來，國(guo)內部(bu)分(fen)檢(jian)(jian)(jian)針機(ji)生(sheng)產企業(ye)的(de)(de)生(sheng)產技術已(yi)經發生(sheng)很大的(de)(de)提高，此時的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)針靈(ling)(ling)敏度都采用了標(biao)準測(ce)試卡(ka)作為(wei)檢(jian)(jian)(jian)針靈(ling)(ling)敏度測(ce)試標(biao)準。